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  • 產品名稱：線掃描測厚儀在線式 Otsuka大冢

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
它是一種可以在薄膜生產現場在線測量薄膜厚度的設備。 通過將開創的光譜干涉技術與新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少0.01的測量間隔測量寬度為500mm（使用一臺時）的膜厚秒。
詳情介紹：
  • 采用線掃描方式，實現全尺寸薄膜檢測，無“遺漏”
  • 只有專門從事膜厚測量的制造商才能提供的**支持
  • 可以進行高速高精度的測量
  • 使用抗抖動的光學系統
  • 寬樣品（TD方向*大可測量10m）
  • 硬件和軟件的原創設計
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