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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
它是一種緊湊且價(jià)格低廉的膜厚計(jì),可通過高精度光學(xué)干涉儀以簡單的操作實(shí)現(xiàn)膜厚測量。
我們采用了一體式的機(jī)殼,在主機(jī)中容納了必要的設(shè)備,從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
通過以低價(jià)獲得優(yōu)良反射率可以分析光學(xué)常數(shù)。
詳情介紹:
特殊長度
- 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
- 使用反射光譜進(jìn)行膜厚分析
- 緊湊且價(jià)格低廉,實(shí)現(xiàn)了非接觸,無破壞的高精度測量
- 簡便的條件設(shè)置和測量操作!任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 通過峰谷法,頻率分析法,非線性*小二乘法,優(yōu)化方法等,可以進(jìn)行各種各樣的膜厚測量。
- 通過非線性*小二乘薄膜厚度分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計(jì)數(shù))。
測量項(xiàng)目
- 優(yōu)良反射率測量
- 膜厚分析(10層)
- 光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計(jì)數(shù))
測量目標(biāo)
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功能膜,塑料
透明導(dǎo)電膜(ITO,銀納米線),相位差膜,偏光膜,AR膜,PET,PEN,TAC,PP,PC,PE,PVA,膠粘劑,膠粘劑,保護(hù)膜,硬涂層,抗指紋, 等等。 -
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體,硅,氧化膜,氮化膜,抗蝕劑,SiC,GaAs,GaN,InP,InGaAs,SOI,藍(lán)寶石等。 -
表面處理
DLC涂層,防銹劑,防霧劑等 -
光學(xué)材料
濾鏡,增透膜等 -
FPD
LCD(CF,ITO,LC,PI),OLED(有機(jī)膜,密封劑)等 -
其他
硬盤,磁帶,建筑材料等
- 產(chǎn)品信息
- 原則
- 規(guī)格
- 設(shè)備配置

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